控制与决策

作者：戴铭,叶木超,周智恒,杨志伟

单位：华南理工大学电子与信息学院，广州510640,,华南理工大学电子与信息学院，广州510640,,华南理工大学电子与信息学院，广州510640,,广州智慧城市研究院，广州510060,

关键词：缺陷检测;纹理背景;活动轮廓模型;先验分布

基金：国家自然科学基金项目(61871188)；国家重点研发计划项目(2018YFC0309400).

在工业产品的表面缺陷检测中,计算机视觉逐渐取代人工视觉,这是工业自动化的重要标志之一.而产品的表面纹理对缺陷检测的干扰一直是个难点.从图像分割的角度出发,以缺陷为目标,将纹理表面作为背景提取产品的表面缺陷.基于非参数统计活动轮廓模型提出一种先验分布模型,即以纹理的灰度分布作为背景的先验信息,使得算法更容易区分纹理背景和缺陷.实验结果表明,所提出的算法适用于不同纹理背景的缺陷检测,能准确地提取缺陷位置.

来源：2020年第5期

《控制与决策》期刊编辑部

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